如何提高電路測試儀上的ASA曲線測試可靠性
| 實際使用中，大致有以下原因?qū)е虏荒艿玫秸鎸嵉墓?jié)點曲線，從而引起故障誤判。測試可靠性指測試儀能夠識別出不真實的ASA曲線的能力。 1．接觸問題 接觸問題是影響故障判斷的常見問題之一。當(dāng)測試到開路曲線的時候，其實很可能是由于接觸問題——器件管腳氧化、防銹涂層未打磨干凈、測試探頭磨損等原因所引起的，所以在實際使用中，一旦發(fā)現(xiàn)開路曲線，都要再次確認(rèn)——檢查、處理，然后重測，以免得到虛假曲線。但當(dāng)一次測試要處理成百上千條曲線時，依靠人工來找出開路曲線很不現(xiàn)實，因此，匯能測試儀設(shè)有自動判斷開路曲線的功能，在所有測試后得到的曲線中，只要存在開路曲線，就給出提示信息，用戶可以根據(jù)提示很容易找到它的所在。 2．曲線穩(wěn)定性問題 由于被測電路本身的原因，導(dǎo)致在同樣的測試條件下，每次測到的曲線都不相同稱之為曲線不穩(wěn)定。導(dǎo)致不穩(wěn)定曲線的原因主要有以下三種： a．自激導(dǎo)致的不穩(wěn)定 電路結(jié)點的電特征千差萬別，將一個正弦波注入電路結(jié)點，某個結(jié)點正好在這個頻率下出現(xiàn)自激是完全可能的。自激曲線的現(xiàn)象是大面積散點，并且沒有最終的穩(wěn)定狀態(tài)。更換測試信號頻率即可消除自激現(xiàn)象。 其實這也是ASA測試使用多種頻率正弦波作為測試信號的原因——正弦波的諧波分量最少，導(dǎo)致自激的可能性最小。 b．過渡過程導(dǎo)致的不穩(wěn)定 當(dāng)結(jié)點的充、放電常數(shù)相差較大時所導(dǎo)致。這種曲線的現(xiàn)象是當(dāng)反復(fù)測試時，曲線逐步向一個穩(wěn)定狀態(tài)靠近，有一個最終的穩(wěn)定狀態(tài)。 c．測試MOS器件時的不穩(wěn)定 前兩種不穩(wěn)定主要發(fā)生在電路板測試時，而這種不穩(wěn)定主要發(fā)生在測試單獨的MOS器件時。導(dǎo)致這種不穩(wěn)定的原因是器件中的MOS晶體管隨測試信號上升、下降的開關(guān)過程不同。 這種不穩(wěn)定的現(xiàn)象是曲線上下跳，似乎是兩條穩(wěn)定曲線輪流出現(xiàn)一樣。測試時只要把器件的電源腳和地腳都接地就可消除。 不穩(wěn)定曲線容易導(dǎo)致誤判。但當(dāng)一次測試要處理成百上千條曲線時，依靠人工來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定曲線很不現(xiàn)實，因此，匯能測試儀設(shè)有自動判斷曲線是否穩(wěn)定的功能，在所有測到的曲線中，只要存在不穩(wěn)定曲線，就給出提示信息，用戶可以根據(jù)提示很容易找到它的所在，然后按上述方式處理、重測即可。 |
